Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
DOI:
https://doi.org/10.36995/j.masingenio.2019.01.01.004Palavras-chave:
Estres do capacitor, falhas na descarga eletrostática, fontes comutadas, fontes switching, vida útil do capacitorResumo
Este trabalho, enquadrado em um projeto de pesquisa credenciado, teve como objetivo determinar as principais causas de falhas em fontes chaveadas ou comutadas. Em 83% dos casos analisados, os resultados empíricos indicaram que as falhas foram devidas ao estresse que os capacitores utilizados como filtros suportam. Os dados foram obtidos a partir de um acompanhamento de serviços preditivos, preventivos e de reparo para reparos fora de serviço, isso foi comparado com as informações das folhas de dados dos fabricantes de capacitores, relacionando-os às suas condições de serviço através de de simulação. As informações obtidas permitiram estabelecer a vida útil dos capacitores nas fontes comutadas, de acordo com suas condições de serviço e com as exigências a que estão submetidas. Concluiu-se que a determinação da vida útil do capacitor ao estresse pode fornecer dados para o processo de fabricação adequada, e uso de produtos, a escolha correta deles de acordo com seu destino e também fornece os dados necessários para a implementação de protocolos adequados de manutenção preditiva e corretiva em equipamentos eletrônicos.
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